VZOR 1. Měření VA charakteristiky diod
VZOR 3. Měření VA charakteristiky bipolárního NPN tranzistoru
VZOR 4. Srovnání frekvenčních charakteristik měřících přístrojů
VZOR 5. Ověření platnosti Theveninova teorému
VZOR 6. Měření rezonanční křivky rezonančního RLC obvodu
VZOR 7. Měření frekvenční charakteristiky Wienova článku
VZOR 8. Měření parametrů kondenzátorů